中科光芯请求半导体激光器老化检测设备及办法专利得到更精确的老化程度查验测验成果

  国家知识产权局信息数据显现，深圳市中科光芯半导体科技有限公司请求一项名为“一种半导体激光器的老化检测设备及检测的新办法”的专利，公开号CN121208572A，请求日期为2025年10月。

  专利摘要显现，本发明触及半导体激光器检测技术领域，详细触及一种半导体激光器的老化检测设备及检测的新办法。该设备包含个别剖析模块，用于剖析半导体激光器的温度呈现异常的次数以及温度呈现动摇的不稳定特性，确认气温改变异常性；全体剖析模块，用于依据方针半导体激光器与其他半导体激光器之间的温度与气温改变异常性，确认气温改变差异度；初始确认模块，用于结合气温改变差异度、方针半导体激光器与其他半导体激光器之间的方位联系，确认半导体激光器的热耦合程度；老化确认模块，用于根据热耦合程度和查验测验的数据，确认所述半导体激光器的归纳老化程度。本发明减缓了不同半导体激光器之间的热耦合影响，得到了更精确的老化程度检测成果。

  天眼查资料显现，深圳市中科光芯半导体科技有限公司，成立于2020年，坐落深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1504.43809万人民币。经过天眼查大数据剖析，深圳市中科光芯半导体科技有限公司共对外出资了2家企业，参加招投标项目1次，产业线条，此外企业还具有行政许可12个。

  声明：商场有危险，出资需谨慎。本文为AI根据第三方数据生成，仅供参考，不构成个人出资主张。